因为超声波经过保护膜、耦合剂(直探头)或有机玻璃楔块(斜探头)进入待测工件的，缺点定位时，需将这部分声程移去，才干得到超声波在工件中实践声程。
零点一般是经过已知声程的试块进行调理，如CSK-IA试块中的R100圆弧面(斜探头)或深100mm的大平底(直探头)。
因为斜探头探伤时不只要知道缺点的声程，更要得出缺点的笔直和水平方位，因而斜探头还要精确测定其K值(折射角)才干精确地对缺点进行定位。
K值一般是经过对具有已知深度孔的试块来调理，如用CSK-IA试块?50或?1.5的孔。
纵波定位较简略，如探头波束轴线不违背，缺点波在屏幕上方位便是缺点至探头在笔直方向的间隔。
外表波探伤定位与纵波定位根本相似，仅仅缺点坐落工件外表，缺点波在屏幕上方位是缺点至探头在水平方向的间隔(此刻要考虑探头前沿)。
横波斜探头探伤定位由缺点的声程和探头的折射角或缺点的水平缓笔直方向的投影来确认。
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